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分卷阅读115 (第3/4页)
刘靖瑶风尘仆仆的赶到研究室,因为今天是芯片首次测试的日子。她一到,几个身穿白袍的研究员就围上来,为首的是耳边长着斑驳白发的老人。 他神情振奋:“刘同学你终于来了,大伙就等你。” “抱歉,学生会临时有事。”刘靖瑶道歉。 “没事,你又顾着上学,又要忙公司的事,分身乏术是可以了解。”老者摆摆手。 刘靖瑶换上一身实验服,问道:“许教授,一切准备就绪了吗?” 许光达,也就是老者,激动不已:“人员已经在自己的岗位上待命,装置也准备好了。” “那好,我们马上开始。” 第116章 凰芯 芯片测试的目的是快速了解它的体质。当芯片被晶圆厂制作出来后,就会进入晶圆测试的阶段,生产工程师会使用自动测试仪器运行芯片设计方给出的程序。 一般来说每一次测试版本都是几十万行的代码,保证代码不能出错,需要涉及上百人的测试工程师协同工作,因此测试是费时费力的工作。实际上,很多大公司芯片的测试成本已经接近研发成本。 不过在刘靖瑶这里,代码的正确率不是问题。系统和芯片是刘靖瑶全盘计划的基础,她不允许有任何出错。 实验室的研究员有条不紊地进行测试工作,刘靖瑶和许光达目不转睛地盯着每个环节。 “就目前的数据而言,芯片的故障率极低,按照这样情况下去,芯片的量产指日可待。”许光达自信道。 刘靖瑶翻着报告
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